Металлографические микроскопы

Металлографические микроскопы позволяют исследовать не только объекты металлической природы, как это видно из их названия, но и любые непрозрачные или полупрозрачные материалы. С помощью металлографических микроскопов можно проводить изучение внутренней структуры различных композитных материалов, горных пород, шлаков, делать точные измерения деталей в машиностроении, исследовать топологические структуры элементов электронной промышленности, а также многое другое, что допускается их устройством и техническими возможностями.

Объектами исследований в металлографических микроскопах часто являются вырезанные определенным способом и тщательно отшлифованные слитки, так называемые «шлифы», которые рассматриваются в отраженном свете. Достаточно часто металлографические микроскопы комплектуются устройствами для проведения исследований в поляризованном свете (поляризатором и анализатором). А некоторые, например Альтами МЕТ 3 М или Альтами МЕТ 5 дают возможность наблюдать объекты дополнительно и в темном поле, что значительно удорожает их стоимость, но при этом позволяет достичь очень высоких и точных результатов исследований.

Металлографические микроскопы, благодаря своим возможностям и достаточной универсальности, нашли широкое применение в металлургической промышленности, горнорудном и горноперерабатывающем деле, геологии и в электронной отрасли. В последнее время наиболее широкое применение находят металлографические микроскопы, в которых традиционная визуальная система дополнена возможностями цифровых технологий. Цифровые комплексы, созданные на базе металлографических микроскопов, позволяют на только изучать структуру исследуемого материала в режиме реального времени, но и делать её фотоснимки, а также выводить изображение на монитор компьютера и сохранять его в электронном виде. Цифровые металлографические микроскопы «Альтами» комплектуются специально разработанным программным обеспечением Altami Studio, одной из отличительных особенностей которой является возможность определять размеры объектов интереса как на статическом изображении, так и на в режиме реального времени.